更新時間:2024-04-10
次數(shù):620
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
產(chǎn)品型號:
品牌 | 美國力科 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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類型 | 數(shù)字示波器 | 應用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
特勵達力科WaveMaster 8 Zi-B 示波器產(chǎn)品簡介
高帶寬,
WaveMaster 8 Zi-B 示波器具有通用測試通用性,具有串行數(shù)據(jù)鏈路分析和 DDR 測試所需的帶寬和工具。
最大能力
同時支持50Ω和1MΩ的輸入,以支持更廣泛的探頭。
混合信號采集能力
全面的串行觸發(fā)和解碼
高速串行數(shù)據(jù)測試工具的標志性代表 - QualiPHY 一致性測試自動化、DDR 和串行數(shù)據(jù)測試。
適合串行數(shù)據(jù)和 DDR
簡單而強大的一致性測試自動化
交互式 DDR 調(diào)試工具包
最完整的眼圖、抖動和噪聲分析
Teledyne LeCroy 的端到端鏈路信號完整性分析 WaveMaster 8 Zi-B 示波器使用 WavePulser 40iX 和其他工具。
分析整個鏈接
從導入 S 參數(shù)文件 WavePulser 40iX
去嵌入設備和模擬通道
測量發(fā)射器和接收器均衡效果。
最大能力
WaveMaster 8 Zi-B 示波器結(jié)合了高帶寬性能(高達 20 GHz)和通用功能,可實現(xiàn)全面的驗證和調(diào)試功能。
50Ω 和 1 MΩ 輸入,支持最寬的探頭
WaveMaster 是一款還提供內(nèi)置 1 MΩ 輸入的高帶寬示波器。 這允許直接連接無源探頭,并支持廣泛的低壓、高壓和電流探頭,所有這些都不需要使用昂貴的附加外部適配器。
混合信號采集,低速和高速
使用混合信號選項擴展您的采集范圍,用于具有多達 36 個通道和 500 MHz 數(shù)字時鐘速率的低速數(shù)字采集或具有多達 18 個通道和 6 Gb/s 數(shù)字時鐘速率的高速數(shù)字采集。
綜合串行數(shù)據(jù)觸發(fā)器/解碼器
全面的低速串行數(shù)據(jù)觸發(fā)器和解碼器,加上測量/圖形和眼圖測試,提供了對低速事件的最佳因果分析。 輕松將低速串行交互與高速串行數(shù)據(jù)或其他事件相關(guān)聯(lián)。
特勵達力科WaveMaster 8 Zi-B 示波器適合串行數(shù)據(jù)和 DDR
WaveMaster 8 Zi-B 是用于高速串行數(shù)據(jù)和存儲器一致性測試和調(diào)試的最佳示波器平臺。
Teledyne LeCroy QualiPHY 自動一致性測試主對話框。
QualiPHY 自動一致性測試
支持 PCI Express、USB、HDMI™、DisplayPort™、以太網(wǎng)、車載以太網(wǎng)、DDR 和許多其他串行數(shù)據(jù)標準
全自動發(fā)射機和接收機測試和接收機測試校準
分步說明和自動報告生成
自動通過/失敗測試報告
最完整的串行數(shù)據(jù)分析工具集
多通道抖動和眼圖分析
LaneScape™ 比較模式
垂直噪聲和串擾分析
集成均衡、仿真和去嵌入
虛擬探測
全面的 DDR 測試套件
通過 DDR2/LPDDR2X 支持 DDR5/LPDDR4
JEDEC 物理層一致性測試
DDR 調(diào)試工具包 在 DDR 設計和集成周期中提供快速問題解決
HDA125高速數(shù)字分析儀 用于靈活的混合信號探測
探測多功能性高達 20 GHz
分析整個鏈接
結(jié)合 WavePulser 40iX 高速互連分析儀, WaveMaster 8 Zi-B 示波器和 SDAIII-CompleteLinQ 選項提供了最完整的信號完整性分析工具包。
去嵌入夾具和測試電纜
從 LeCroy 導入 S 參數(shù) WavePulser 40iX 或其他工具
使用 眼科醫(yī)生 和 虛擬探頭 工具可輕松準確地消除固定裝置和電纜的影響
應用完整的 串行數(shù)據(jù)分析軟件包 用于直接在被測器件的輸出引腳進行全眼圖、抖動和噪聲分析的去嵌入波形工具包
模擬真實世界的通道損失
WavePulser 40iX 簡化并加快測試通道損耗曲線的準確測量
采集信號路徑中任意點的波形,然后嵌入通道的效果
同時比較多個測試點的眼圖、抖動和噪聲測量
模擬 Tx 和 Rx 均衡
串行數(shù)據(jù)分析軟件包 使用 Eye Doctor 可以模擬所有常見的均衡類型,包括:
— 發(fā)射機強調(diào)
— 接收器 FFE
— 接收器 CTLE
— 接收器 DFE
完整的 PCI Express 物理層測試解決方案
Teledyne LeCroy 的 PCI Express 電氣測試解決方案將儀器與先進的軟件相結(jié)合,用于自動發(fā)送器、接收器和鏈路均衡 (LEQ) 測試以及從物理層到協(xié)議操作的可見性。
USB 和 USB Type-C 物理層測試解決方案
2011 年,Teledyne LeCroy 成為獲得 USB-IF 批準的 3.0 Gb/s USB 5“Gold Suite"。 Teledyne LeCroy 繼續(xù)成為值得信賴的解決方案USB4, USB 3.2, Thunderbolt™ 3/4 和顯示端口™ 2.0標準。