2650系列高功率 SourceMeter®源測量元儀器

2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測試而設計。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性、易用性，可提高研發(fā)、生產測試和可靠性環(huán)境中的效率。 兩種儀器可以提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流功率。

特點

高度靈活的四象限電壓和電流源/負載，與高精度電壓表和電流表相耦合

源或阱 (2651A) 脈沖功率高達 2000W（±40V、±50A），或直流電源高達 200W（±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A）；輕松連接兩個器件（串聯或并聯）創(chuàng)建高達 ±100A 或 ±80V 的解決方案

源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達 180W（±3000V@20mA、±1500V@120mA）

內置基于網絡瀏覽器的軟件

有數字化或積分測量模式可供選擇

TSP（測試腳本處理）技術

TSP-Link 通道擴展總線

兼容于 8010 型高功率設備測試夾具和 8020 型高功率接口面板

免費的測試腳本構建器軟件工具

選配的 ACS 基礎半導體元器件檢定軟件

優(yōu)勢

提供相比同類產品頗具優(yōu)勢的性能，具有 6? 位分辨率。

支持功率半導體、HBLED、光學設備、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復合材料與設備的檢定/測試。應用范圍包括半導體接點溫度檢定；高速、高精度數字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設備測試。

提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復合材料和器件、高達 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定。

支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從全球任何地方進行遠程控制。

支持精確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為，包括快速變化的熱效應。

可以與 2657A 型與 2600B 系列型號輕松地進行系統集成。

讓多臺 2651A 和 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達 32 條通道的集成系統。

為封裝部件或晶片級高功率設備測試提供安全而方便的連接。

幫助您創(chuàng)建、修改、調試和存儲 TSP 測試腳本。

開發(fā)、質量檢驗或故障分析期間執(zhí)行封裝部件檢定時，較大限度地提高工作效率。

2650系列高功率 SourceMeter®源測量元儀器降低成本并保護您的投資